Rauheit- und Topographie-Analysen
Durch den Einsatz der Rasterkraftmikroskopie AFM lassen sich auch schwierigste Oberflächen im µm- und nm-Bereich dreidimensional topografisch abbilden. Auf diese so gewonnenen Datensätze lassen dich dann je nach Fragestellung verschiedenste Analysetools anwenden.
Querschnittsanalysen
Die Topographiedaten von AFM-Messungen lassen frei wählbare Querschnitte zu, welche dann je nach Fragestellung genauestens vermessen werden können. Typischerweise werden damit Strukturen im nm- und µm-Bereich analysiert.
Querschnittsanalyse einer Oberfläche.
Rauheitsanalysen: Ermittlung von RMS- und Ra-Werten
Die topografischen Datensätze von AFM-Messungen ermöglicht unter anderem die Bestimmung typischer Rauigkeitswerte, wie zum Beispiel die mittlere Standardabweichung (RMS) und die mittlere Rauheit (Ra), aber auch eine Fourieranalysen (PSD, power spectral density), Korngrössenvermessungen und weitere.
Bestimmung verschiedener Oberflächenparameter
Bei Interesse an der Bestimmung dieser Parameter beraten wir Sie gerne. Kontaktieren Sie uns hierzu einfach unter info@nanocraft.de.
