Analytische Dienstleistungen Oberflächentechnologie

Aufgrund der langjährigen Erfahrung im Bereich der Oberflächenanalyse können wir unseren Kunden zahlreiche Analysemethoden zur Verfügung stellen.

Chemische Kraftmikroskopie (CFM)

Als Experte und Miterfinder (Publikationen) auf dem Gebiet der chemischen Kraftmikroskopie (CFM) freuen wir uns sehr diesen Service ebenfalls unseren Kunden als Dienstleistung  anbieten zu können.

Mittels der CFM können sehr spezifische Wechselwirkungen zwischen speziell beschichteten Spitzen (siehe CFM Messspitzen) und der zu untersuchenden Oberfläche detektiert werden. Hierdurch wird eine hohe chemische Spezifität der Abbildung erzielt. Die chemische Sensitivität bei gleichzeitiger topographischer und elastischer Hochauflösung macht die Chemische Kraftmikroskopie zu einem einzigartigen Werkzeug der Oberflächenforschung mit großem Potential für Entwicklungen und Lösungsansätzen.

Modifikationen der Rastersondenmikroskopie

Neben der CFM bietet die NanoCraft Coating GmbH weitere Modifikationen der Rastersondenmikroskopie (scanning probe microscopy, SPM) an. Hierzu zählen:

  • Rasterkraftmikroskopie (atomares Kraftmikroskopie, Atomkraftmikroskopie, atomic/scanning force microscopy, AFM)
  • Piezoelectric force Mikroskopie (PFM)
  • Digital Pulsed Force Mode (DPFM) – SPM
  • Tapping Mode Mikroskopie

weitere analytische Verfahren unseres Serviceportfolios

Zusätzlich zu den oben aufgeführten Analysemethoden bieten wir unseren Kunden ebenfalls folgende Service-Analytik an:

  • Fourier-Transform-Infrarotspektrometrie (ATR-FTIR) zum Nachweis von Molekülbindungen (z.B. C-H, -OH, C=O, -NH …) in 100 – 3000nm Tiefe
  • Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) bildgebendes Verfahren zur Analyse der atomaren und molekularen Zusammensetzung vakuumkompatibeler Proben in den obersten 1-3 Monolagen bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen.
  • Röntgenphotoelektronenspektroskopie (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) – zur zerstörungsfreien Bestimmung der chemischen Zusammensetzung vakuumkompatibeler Proben in 5 – 10 nm Tiefe, optional bildgebend
  • Rasterelektronenmikroskop (REM, scanning electron microscope, SEM) zur Abbildung der Probentopographie im nm-Bereich für vakuumkompatibele Proben
  • Transmissionselektronenmikroskopie (transmission electron microscopy, TEM) für vakuumkompatibele Proben von 10 bis mehrere 100nm
  • Ellipsometrie – zur Bestimmung von dielektrische Materialeigenschaften und der Schichtdicke dünner Schichten durch die Änderung des Polarisationszustands von Licht
  • Kontaktwinkel Mikroskopie – zur Charakterisierung des Benetzungsverhaltens von Feststoffoberflächen durch Flüssigkeiten, Hydrophilie, Hydrophobie, Oleophobie

 

Die NanoCraft Coating GmbH be­stim­mt für Sie die ent­schei­den­den Pa­ra­me­ter wie chemische Elemente, Rauheit und Topographie (bis in den atomaren Bereich), Wechselwirkungskräfte, Oberflächenenergien und Benetzungseigenschaften Ihrer Ober­flä­che schnell und zuverlässig. Die Ergebnisse präsentieren wir Ihnen im Folgenden in der von Ihnen ge­wünsch­ten Form.

Vergleichende Untersuchungen (vorher-nachher Betrachtung) geheören, ebenso wie hochauflösende Abbildung der Oberfläche bis in den atomaren Bereich, zu unserem Tagesgeschäft. Selbstverständlich können folglich die von uns vorgenommenen Aus­wer­tung, Ana­ly­sen und In­ter­pre­ta­ti­on in einer publikationsreifen Form dokumentiert werden.

Wün­schen Sie hierzu weitere In­for­ma­tio­nen? Gerne ste­hen wir Ihnen für ein Be­ra­tungs­ge­spräch bezüglich Ihres spe­zi­fi­schen An­lie­gens zur Ver­fü­gung. Sie er­rei­chen uns unter Tel. +49 7733 948445 oder per E-Mail unter info@​nanocraft.​de.