Analytische Dienstleistungen Oberflächentechnologie
Aufgrund der langjährigen Erfahrung im Bereich der Oberflächenanalyse können wir unseren Kunden zahlreiche Analysemethoden zur Verfügung stellen.
Chemische Kraftmikroskopie (CFM)
Als Experte und Miterfinder (Publikationen) auf dem Gebiet der chemischen Kraftmikroskopie (CFM) freuen wir uns sehr diesen Service ebenfalls unseren Kunden als Dienstleistung anbieten zu können.
Mittels der CFM können sehr spezifische Wechselwirkungen zwischen speziell beschichteten Spitzen (siehe CFM Messspitzen) und der zu untersuchenden Oberfläche detektiert werden. Hierdurch wird eine hohe chemische Spezifität der Abbildung erzielt. Die chemische Sensitivität bei gleichzeitiger topographischer und elastischer Hochauflösung macht die Chemische Kraftmikroskopie zu einem einzigartigen Werkzeug der Oberflächenforschung mit großem Potential für Entwicklungen und Lösungsansätzen.
Modifikationen der Rastersondenmikroskopie
Neben der CFM bietet die NanoCraft Coating GmbH weitere Modifikationen der Rastersondenmikroskopie (scanning probe microscopy, SPM) an. Hierzu zählen:
- Rasterkraftmikroskopie (atomares Kraftmikroskopie, Atomkraftmikroskopie, atomic/scanning force microscopy, AFM)
- Piezoelectric force Mikroskopie (PFM)
- Digital Pulsed Force Mode (DPFM) – SPM
- Tapping Mode Mikroskopie
weitere analytische Verfahren unseres Serviceportfolios
Zusätzlich zu den oben aufgeführten Analysemethoden bieten wir unseren Kunden ebenfalls folgende Service-Analytik an:
- Fourier-Transform-Infrarotspektrometrie (ATR-FTIR) zum Nachweis von Molekülbindungen (z.B. C-H, -OH, C=O, -NH …) in 100 – 3000nm Tiefe
- Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) bildgebendes Verfahren zur Analyse der atomaren und molekularen Zusammensetzung vakuumkompatibeler Proben in den obersten 1-3 Monolagen bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen.
- Röntgenphotoelektronenspektroskopie (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) – zur zerstörungsfreien Bestimmung der chemischen Zusammensetzung vakuumkompatibeler Proben in 5 – 10 nm Tiefe, optional bildgebend
- Rasterelektronenmikroskop (REM, scanning electron microscope, SEM) zur Abbildung der Probentopographie im nm-Bereich für vakuumkompatibele Proben
- Transmissionselektronenmikroskopie (transmission electron microscopy, TEM) für vakuumkompatibele Proben von 10 bis mehrere 100nm
- Ellipsometrie – zur Bestimmung von dielektrische Materialeigenschaften und der Schichtdicke dünner Schichten durch die Änderung des Polarisationszustands von Licht
- Kontaktwinkel Mikroskopie – zur Charakterisierung des Benetzungsverhaltens von Feststoffoberflächen durch Flüssigkeiten, Hydrophilie, Hydrophobie, Oleophobie
Die NanoCraft Coating GmbH bestimmt für Sie die entscheidenden Parameter wie chemische Elemente, Rauheit und Topographie (bis in den atomaren Bereich), Wechselwirkungskräfte, Oberflächenenergien und Benetzungseigenschaften Ihrer Oberfläche schnell und zuverlässig. Die Ergebnisse präsentieren wir Ihnen im Folgenden in der von Ihnen gewünschten Form.
Vergleichende Untersuchungen (vorher-nachher Betrachtung) geheören, ebenso wie hochauflösende Abbildung der Oberfläche bis in den atomaren Bereich, zu unserem Tagesgeschäft. Selbstverständlich können folglich die von uns vorgenommenen Auswertung, Analysen und Interpretation in einer publikationsreifen Form dokumentiert werden.
Wünschen Sie hierzu weitere Informationen? Gerne stehen wir Ihnen für ein Beratungsgespräch bezüglich Ihres spezifischen Anliegens zur Verfügung. Sie erreichen uns unter Tel. +49 7733 948445 oder per E-Mail unter info@nanocraft.de.