Rauheit- und Topographie-Analysen

Durch den Einsatz der Rasterkraftmikroskopie AFM lassen sich auch schwierigste Oberflächen  im µm- und nm-Bereich dreidimensional topografisch abbilden. Auf diese so gewonnenen Datensätze lassen dich dann je nach Fragestellung verschiedenste Analysetools anwenden.

Querschnittsanalysen

Die Topographiedaten von AFM-Messungen lassen frei wählbare Querschnitte zu, welche dann je nach Fragestellung ge­nauestens ver­mes­sen werden können. Typischerweise werden damit Struk­tu­ren im nm- und µm-Be­reich analysiert.

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Querschnittsanalyse einer Oberfläche.

Rauheitsanalysen: Ermittlung von RMS- und Ra-Werten

Die topografischen Datensätze  von AFM-Messungen ermöglicht unter an­de­rem die Bestimmung typischer Rau­ig­keits­wer­te, wie zum Beispiel die mitt­le­re Stan­dard­ab­wei­chung (RMS) und die mitt­le­re Rau­heit (Ra), aber auch eine Fourieranalysen (PSD, power spectral density), Korngrössenvermessungen und weitere.

Bestimmung verschiedener Oberflächenparameter

 

Bei Interesse an der Bestimmung dieser Parameter beraten wir Sie gerne. Kontaktieren Sie uns hierzu einfach unter info@nanocraft.de.